偏光片表面缺陷智能多分选控制系统及方法

本申请涉及偏光片表面缺陷的智能控制领域，其具体地公开了一种偏光片表面缺陷智能多分选控制系统及方法，其将采集到的待分析偏光片的图像数据作为输入数据，然后利用计算机视觉和图像处理技术对所述待分析偏光片的图像数据进行特征提取和分析，从而得到用于表示待分析偏光片表面缺陷类型的分类结果。这样，根据分类结果，可以对偏光片表面缺陷进行检测和分析，以提高缺陷检测的准确性和效率，从而确保偏光片的质量的稳定性和可靠性。