一种多通道FA芯片自动耦合测试设备

本发明公开了一种多通道FA芯片自动耦合测试设备，测试设备包括底架、第一电动滑台、第一斜滑臂、第二电动滑台、第二斜滑臂、棱镜固定平台、光追射电装置，底架与第一电动滑台固定连接，第一电动滑台与第一斜滑臂传动连接，第一斜滑臂与棱镜固定平台传动连接，棱镜固定平台与底架固定连接，第二电动滑台与底架固定连接，第二电动滑台与第二斜滑臂传动连接，第二斜滑臂与棱镜固定平台传动连接，光追射电装置与底架固定连接；本发明涉及FA芯片检测设备技术领域，本发明具有高度自动化，结构稳定，可以快速检测出FA芯片的耦合情况，大幅提升了FA芯片检测的效率。