一种适用于一次性可编程芯片自动产测的测试方法和设备

本发明公开了一种适用于一次性可编程芯片自动产测的测试方法和设备。该测试方法包括如下步骤：机台发送指令，使辅助测试芯片将测试代码加载至被测芯片的所述RAM存储器；辅助测试芯片对被测芯片进行测试；辅助测试芯片将应用代码下载到被测芯片的OTP存储器。本发明通过引入辅助测试芯片，使得对芯片质量进行测试所需要的测试代码与实际应用的代码，分别写入OTP芯片的RAM存储器和OTP存储器，避免测试代码占用OTP存储空间；同时提高了测试速度，缩短了测试交付周期。