芯片测试系统及其测试方法

本发明提出了一种芯片测试系统及其测试方法，测试系统包括：测试机、开关电路与偏置电源。本发明通过在待测芯片的对地参考端与测试系统的电源地之间引入偏置电源，提高待测芯片的对地参考端相对电源地的电位，以使测试机的接地端与待测芯片的对地参考端之间具有电压差，从而使得测试机无需负电压电源便可对待测芯片内的电子元件进行反向测试，降低测试机的成本。同时，测试机的接地端与待测芯片的对地参考端之间设有开关电路，通过控制开关电路的闭合和断开来控制待测芯片的对地参考端与接地端之间的电压差，从而使这种测试结构能满足接触测试和高速数据传输测试的不同需求。