多线程内存测试方法、系统、电子设备及存储介质

本发明提供一种多线程内存测试方法、系统、电子设备及存储介质，该方法包括：在测试平台启动流程的初始化阶段，单核处理器利用内存测试算法进行内存测试，或多核处理器配置内存的测试环境；获取空闲内存空间，并对空闲内存空间进行映射访问物理内存空间；采用多线程的调度方式对物理内存空间进行内存算法测试，获得物理内存空间的测试结果。本发明在LK阶段下采用多线程的方式，结合内存测试算法，短时间内单独对同一块内存空间进行测试，有效提高内存测试算法的拦截率，更好地检测出不稳定的内存单元故障，同时加快了测试效率，缩短了测试时间。