摘要
本发明属于半导体技术领域,公开了一种在GaAs衬底上外延生长InAsGaSb二类超晶格的方法及系统,选用高质量的GaAs单晶作为衬底,通过化学机械抛光和清洗处理,去除表面杂质和氧化层;精确控制生长温度、气体流量、压力等参数,优化生长条件;采用先进的原位监测技术,实时检测生长过程中的杂质浓度和表面形貌;生长工艺设计:设计合理的生长工艺,包括生长层数、生长顺序等参数;通过交替生长InAs和GaSb层,形成具有周期性结构的二类超晶格;通过精确控制生长速率;后处理工艺:在完成生长后,对样品进行后处理,包括退火、冷却等步骤。本发明提供了一种在GaAs衬底上外延生长InAs/GaSb二类超晶格的有效途径,具有广泛的应用前景和重要的技术价值。
技术关键词
衬底上外延生长
原位监测技术
机械抛光
周期性结构
界面缺陷
后处理工艺系统
速率控制
氧化层
单晶衬底
条件控制系统
去离子水
实时反馈系统
大数据分析技术
参数
GaAs衬底
数据分析算法
超晶格结构
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