SoC芯片的验证方法和SoC芯片验证系统、电子设备

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正文
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SoC芯片的验证方法和SoC芯片验证系统、电子设备
申请号:CN202410906658
申请日期:2024-07-05
公开号:CN118734763A
公开日期:2024-10-01
类型:发明专利
摘要
本发明提出一种SoC芯片的验证方法和SoC芯片验证系统、电子设备以及非瞬时性计算机可读存储介质,验证方法用于SoC芯片验证系统,验证方法包括响应于用例激励的输入指令,将用例激励输入至待验证的SoC芯片;记录所述SoC芯片执行所述用例激励的芯片执行过程信息和芯片执行结果;利用记录的所述芯片执行过程信息和所述芯片执行结果对所述SoC芯片进行验证。根据本发明的实施例,在SoC芯片动态执行输入指令的过程中,仅记录执行的CPU指令或CPU指令索引以及执行结果,而不进行实时比对;待SoC芯片执行完所有指令后,再根据存储的CPU指令或CPU指令索引以及执行结果对SoC芯片的正确性进行验证,不仅减少了对内存的占用,且加快了仿真速度。
技术关键词
芯片验证系统 验证方法 非瞬时性计算机可读存储介质 输入模块 计算机可读指令 电子设备 处理器 索引 内存 存储器 动态 速度
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