芯片的安全检测方法、装置、设备及存储介质

本发明涉及一种芯片的安全检测方法，包括以下步骤：通过芯片检测设备上的摄像头获取芯片的图像，并通过预设的编码器对所述芯片的图像进行向量转化，得到图像向量；基于所述图像向量构建芯片图像矩阵，并将所述芯片图像矩阵输入预设的识别算法内进行识别，得到目标芯片的异常识别区域；对所述异常识别区域进行标记，得到异常标记区域；对各个所述异常类型赋予权重和评分，并基于各个所述异常类型对应的权重及评分得到目标芯片的异常检测等级，基于所述异常检测等级、异常类型以及异常识别区域生成异常检测报告，基于所述异常检测报告对所述芯片进行安全检测；解决了依赖于人工目检或简单的自动化设备检测，效率低、准确率有限的技术问题。