一种测试方法、设备、存储介质及程序产品

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一种测试方法、设备、存储介质及程序产品
申请号:CN202410911602
申请日期:2024-07-09
公开号:CN118567931B
公开日期:2025-09-26
类型:发明专利
摘要
本申请涉及终端技术领域,公开了一种测试方法、设备、存储介质及程序产品。其中,测试方法包括:在对电子设备进行测试时,可以在电子设备中构建测试场景,例如视频播放等场景。然后,可以控制电子设备在处理器处于不同的频点信息下,多次运行测试场景,得到多个测试结果。最后,可以基于测试结果确定电子设备的工作性能是否处于正常状态。例如,若测试结果与预设结果均相差较小,表示该电子设备的工作性能正常;若存在测试结果与预设结果相差较大,表示该电子设备的工作性能存在异常。如此,在电子设备出厂前即可完成对电子设备的稳定性测试,以便对存在风险的电子设备进行拦截或修改,使得各电子设备出厂后均具有稳定的工作性能。
技术关键词
测试场景 测试方法 中央处理器 调压功能 调压模块 视频播放程序 电子设备上执行 神经网络处理器 内核 动态 指令 可读存储介质 图形处理器 相机拍照 神经网络模型 计算机程序产品 异常状态
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