一种基于YOLOv5模型的缺陷PCB检测方法

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一种基于YOLOv5模型的缺陷PCB检测方法
申请号:CN202410914272
申请日期:2024-07-09
公开号:CN118747748A
公开日期:2024-10-08
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种基于YOLOv5模型的缺陷PCB检测方法,所述方法包括:S1:获取缺陷PCB图像集;S2:改进YOLOv5模型,所述YOLOv5模型包括依次连接的Backbone网络、Neck网络和Head网络;在Backbone网络中的每个C3模块后添加通道注意力模块SE;在Neck网络中,使用改进SWPC3模块替代原C3模块;将CIoU损失函数替换为EIoU损失函数;S3:采用缺陷PCB图像集对改进YOLOv5模型进行训练;S4:将待测图像输入训练得到的改进YOLOv5模型中,得到识别结果。本发明以YOLOv5模型作为基础识别网络,并对其网络模型结构进行改进,提高了YOLOv5模型的检测精度。
技术关键词
PCB检测方法 模块 瑕疵 全局平均池化 图像 注意力 网络模型结构 通道 表达式 数据 分支 训练集 矩阵 镜像 亮度 矩形 精度 基础
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