芯片测试方法、装置、计算机设备、可读存储介质和程序产品

本申请涉及一种芯片测试方法、装置、计算机设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品。所述方法包括：响应于接收到控制模块发送的测试开始指令，确定所述测试开始指令对应的目标测试模块；基于测试模块与终端之间的关联关系，确定与所述目标测试模块相匹配的目标终端；发送测试指令至所述目标终端，以指示所述目标终端控制所述目标测试模块对待测芯片进行测试。采用本方法能够提高芯片测试效率。