一种基于密集型目标的检测计量方法

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一种基于密集型目标的检测计量方法
申请号:CN202410931028
申请日期:2024-07-12
公开号:CN118470020B
公开日期:2024-10-29
类型:发明专利
摘要
本发明涉及图像处理技术领域,具体涉及一种基于密集型目标的检测计量方法,包括:将训练样本集合中第一细胞显微灰度图像的超像素块;第一细胞显微灰度图像的二值标注图像;获取每个超像素块的中心像素点对边缘像素点的影响系数;获取每个超像素块的中心像素点的走向方向;得到每个超像素块的中心像素点的高斯模糊核;得到第一细胞显微灰度图像的密度图像;获取训练样本集合中每张细胞显微灰度图像的密度图像,根据训练样本集合和所有密度图像,获取待检测细胞显微灰度图像中细胞的数量。本发明提高密度回归估计网络模型训练的准确性,更好的计量待检测细胞显微图像中细胞的数量。
技术关键词
像素点 检测计量方法 像素块 邻域 神经网络模型 坐标 网络模型训练 密度 超参数 图像处理技术 数值 线性 定义
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