一种抑制分层的半导体封装结构及其制备方法

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一种抑制分层的半导体封装结构及其制备方法
申请号:CN202410946862
申请日期:2024-07-16
公开号:CN118486659B
公开日期:2024-09-27
类型:发明专利
摘要
本发明涉及半导体封装技术领域,公开了一种抑制分层的半导体封装结构及其制备方法,半导体封装结构包括芯片、塑封层、重布线层和绝缘框架,塑封层设于芯片的外部,重布线层设置在塑封层的一侧,且重布线层与芯片电连接;塑封层和重布线层之间形成有结合界面,绝缘框架围绕设置在结合界面的边缘处,且绝缘框架分别与塑封层、重布线层嵌合连接;绝缘框架的内侧开设有定位槽,塑封层的边缘设有第一凸出部,重布线层的边缘设有第二凸出部,定位槽分别与第一凸出部、第二凸出部凹凸配合;绝缘框架的两侧还设有第一延伸部和第二延伸部,第一延伸部与塑封层锚固连接,第二延伸部与重布线层锚固连接,绝缘框架与第一延伸部、第二延伸部为一体成型结构。
技术关键词
半导体封装结构 绝缘框架 重布线层 纤维 分层 芯片 一体成型结构 界面 半导体封装技术 硼硅酸玻璃 一体成型制作 定型板 植入焊球 高温拉丝 氮化硅陶瓷 碳化硅陶瓷 氧化铝陶瓷 轮廓形状
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