一种边缘AI芯片性能评估方法、装置、设备及存储介质

本发明公开了一种边缘AI芯片性能评估方法、装置、设备及存储介质，方法包括：从实际运行的边缘AI设备中获取性能数据并进行标注，得到样本数据，其中，所述性能数据包括AI芯片在处理各类计算任务时的性能指标；将所述样本数据输入到基于分位数梯度下降的自组织映射网络中进行训练，得到训练好的分类器，其中，所述训练过程包括模型初始化、输入数据映射、节点竞争学习、邻域节点更新、模型参数更新和模型迭代训练；获取待测数据并输入到所述分类器中进行分类，得到所述AI芯片的性能类别分类结果。采用本发明实施例，能有效处理数据中的异常值和噪声和自适应调整模型参数，提高模型的鲁棒性和灵活性，实现对AI芯片的高效、准确评估。