一种芯片验证系统以及集成验证系统

本申请公开了一种芯片验证系统以及集成验证系统，涉及集成电路技术领域，包括：参考计算组件，用于接收内部激励或外部激励，并对应根据所述内部激励或外部激励模拟芯片中对应待测目标的运行功能，得到运行结果；输出监测组件，用于对所述待测目标的输出进行监测，得到监测结果，所述待测目标与所述参考计算组件接收到的激励一致；比对组件，用于比对运行结果和监测结果，得到芯片验证结果。本申请能够提高芯片集成验证的效率，大量减少集成验证的代码量。