一种DIC散斑图像中裂纹尖端与扩展路径的检测方法

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一种DIC散斑图像中裂纹尖端与扩展路径的检测方法
申请号:CN202410951862
申请日期:2024-07-16
公开号:CN118505684B
公开日期:2024-09-17
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种DIC散斑图像中裂纹尖端与扩展路径的检测方法,属于断裂力学光学测量技术领域,所述检测方法包括:S1、在时间序列上选择基准帧作为参考图像,在感兴趣区域逐点计算待检测图像与参考图像之间最优化的零均值归一化互相关系数,得到感兴趣区域的互相关系数场,从而定位裂纹的位置和扩展路径;S2、对所述互相关系数场进行超分,用于放大裂纹尖端处微小裂纹的路径特征;S3、将超分后的互相关系数场进行预处理,得到预处理之后的裂纹扩展路径,将预处理之后的所述裂纹扩展路径映射回待检测的所述DIC散斑图像中,得到退化后的互相关系数场,同时构建裂纹扩展路径坐标系,输出裂纹扩展路径。本发明解决了微小裂纹特征检测难题。
技术关键词
裂纹扩展路径 感兴趣 关系 上采样 像素点 路径特征 图像结构 边界轮廓 退化模型 坐标系 位置映射 图像像素 裂纹特征 散斑图案 细化算法 椒盐噪声
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