一种误码率测试电路与接口芯片

本发明提供了一种误码率测试电路与接口芯片，涉及测试电路技术领域。该误码率测试电路包括信号生成模块与信号检测模块，信号生成模块与信号检测模块通过信号通道实现通信；信号生成模块用于生成多个并行的测试码，并将测试码进行并行转串行方式处理后，通过信号通道发送至信号检测模块；信号检测模块用于恢复信号通道的测试码，并将恢复的测试码通过串行转并行处理后，进行误码率测试；其中，信号生成模块与信号检测模块的内部均采用CMOS电路结构。本发明提供的误码率测试电路与接口芯片具有减小了版图面积与电路功耗的优点。