摘要
一种芯片辅助开发方法、装置、存储介质及设备。所述方法包括:获取芯片设定的计算功能;获取所述芯片的计算功能参数模版,所述计算功能参数模版包括:与执行所述计算功能相关的配置参数标识信息以及各配置参数对应的取值信息;模拟所述计算功能在所述计算功能参数模版上的运行逻辑,得到芯片模拟运行性能结果;利用预设芯片性能评估标准,对所述芯片模拟运行性能结果进行筛选,得到满足所述芯片性能评估标准的配置参数组合,作为所述芯片的最终设计参数模版。采用上述方案,可以缩短芯片设计周期,提高芯片设计效率。
技术关键词
开发方法
模版
芯片
参数
辅助开发装置
二分查找算法
逻辑
功耗
标识
模拟单元
处理器
可读存储介质
存储器
电子设备
计算机
周期
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可见光
多光谱
注意力机制
采样模块
特征提取能力
输出级电路
辅助电路
施密特触发器
时钟控制系统
信号
退役铅酸蓄电池
电化学阻抗谱
筛选方法
阀控密封铅酸蓄电池
充放电测试设备