一种测试方法及装置

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一种测试方法及装置
申请号:CN202410962733
申请日期:2024-07-17
公开号:CN118916224A
公开日期:2024-11-08
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种测试方法及装置,涉及计算机技术领域,在该方法中,电子设备上电,对电子设备的外围设备进行初始化;获取命令行指令,基于命令行指令触发外围设备进入测试模式;或者,从与电子设备连接的存储设备中获取第一信息,基于第一信息触发外围设备进入测试模式;其中,测试模式包括人机界面MMI模式、睡眠模式、老化模式或开机模式。这样,电子设备上电时或上电后就进入测试模式进行测试,无需进入开机状态,减少了开机带来的时延,从而提高了测试效率。
技术关键词
外围设备 存储设备 模式 电子设备 计算机可读指令 测试方法 存储器 异常信息 人机界面 处理器 通信接口 计算机存储介质 存储计算机程序 参数 测试设备 芯片 可读存储介质
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