一种校验IGBT短路type1行为仿真模型的频域分析方法

本发明属于半导体技术领域，具体是一种校验IGBT短路type1行为仿真模型的频域分析方法。包括：S100：根据短路持续时间计算DFT分析的基波频率；S200：计算频域分析下的电压频域评估PV；S300：计算频域分析下的电流频域评估PI；S400：根据电压频域评估PV和电流频域评估PI计算总的频域评估指标P，作为不同短路type1失效仿真模型的有效性衡量指标。本发明对于变频器等装置的全工况设计和选型提供了更好的支持，提高了设计的效率，同时降低了研发的周期和成本。