摘要
本公开提供了一种薄膜厚度确定方法和薄膜厚度估计模型的训练方法。薄膜厚度确定方法包括:获取待测薄膜的初始反射光谱数据,其中,初始反射光谱数据与待测薄膜的薄膜厚度相关联;对初始反射光谱数据进行数据转换,得到目标反射光谱数据;将目标反射光谱数据输入至薄膜厚度估计模型,得到待测薄膜的薄膜厚度区间,其中,薄膜厚度估计模型是根据与薄膜厚度相关联的仿真光谱训练集,对候选薄膜厚度估计模型进行训练得到的;以及基于预设优化算法,根据薄膜厚度区间,确定待测薄膜的薄膜厚度,其中,预设优化算法包括基于渐进非凸性求解器的全局优化算法。
技术关键词
反射光谱数据
薄膜
全局优化算法
训练集
残差网络模型
样本
残差模块
随机噪声
策略
光强
矩阵
参数
电场
批量
关系
波长
效应
系统为您推荐了相关专利信息
BP神经网络回归模型
数据驱动模型
随机森林
分类预测模型
标签
工厂设备
样本
维修设备
神经网络模型
数据变化趋势
语义信息提取
特征金字塔
交叉注意力机制
网络
模块
决策树模型
流速测量方法
回波
低流速
构建预测模型