测试方法、装置、电子设备和存储介质

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测试方法、装置、电子设备和存储介质
申请号:CN202410978355
申请日期:2024-07-19
公开号:CN118642827A
公开日期:2024-09-13
类型:发明专利
摘要
本公开提供了一种测试方法,涉及人工智能技术领域,尤其涉及芯片技术领域和测试技术领域。具体实现方案为:根据初始任务执行顺序信息和多个协处理单元各自的地址空间,确定至少一个同步任务,其中,初始任务执行顺序信息用于指示执行多个协处理单元各自的初始任务的顺序,同步任务用于指示地址空间存在重叠的至少两个协处理单元中的目标协处理单元执行初始任务;利用多个协处理单元执行多个协处理单元各自的至少一个待执行任务,得到待测执行结果,其中,协处理单元的至少一个待执行任务包括初始任务和同步任务至少之一;根据待测执行结果和多个待执行任务的模拟执行结果,确定测试结果。本公开还提供了一种测试装置、电子设备和存储介质。
技术关键词
协处理单元 层级 控制单元 测试方法 电子设备 人工智能技术 指令 计算机程序产品 处理器通信 信号 精度 可读存储介质 存储器 芯片
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