一种提取条件覆盖数据的方法、电子设备及存储介质

本发明涉及芯片验证领域，特别是涉及一种提取条件覆盖数据的方法、电子设备及存储介质，其通过将条件表达式拆解为多个子表达式，为每个子表达式配置覆盖数据收集模块，该覆盖数据收集模块包括变量收集模块和数据收集模块，其中变量收集模块用于配置收集每个子表达式覆盖数据的收集变量，数据收集模块用于配置收集每个子表达式的覆盖数据，在仿真阶段通过配置收集变量的不同数据位来收集每个子表达式中操作数的取值组合的覆盖状态，完成条件覆盖数据收集，该方式通过获取的收集变量值即可得到对应表达式的覆盖数据，提高了条件覆盖率收集的效率，且模块化配置能够提高配置收集覆盖数据代码的效率。