摘要
本申请实施例涉及芯片设计技术领域,公开了一种芯片的安全设计方法、电子设备及存储介质,该方法通过获取第一电路设计代码,并对第一电路设计代码进行解析,以生成电路网表;根据电路网表,确定寄存器清单列表;根据寄存器清单列表,抽取每一个模块的错误注入点,以生成错误注入点列表;根据错误注入点列表,对芯片进行错误仿真来判断芯片的诊断覆盖率是否符合功能安全设计条件,若不符合,则迭代修改电路设计代码,直至芯片的诊断覆盖率符合功能安全设计条件,本申请能够提高芯片的测试效率,保证芯片的安全性。
技术关键词
覆盖率
非易失性计算机可读存储介质
列表
标志位
可执行程序代码
模块
生成电路
芯片设计技术
电子设备
信号
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处理器
存储器
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