一种高分子PE薄膜表面晶点检测方法及系统

本发明涉及PE薄膜技术领域，具体为一种高分子PE薄膜表面晶点检测方法及系统。首先，使用显微摄像头采集PE薄膜表面的晶点图像；其次，对采集到的晶点图像进行预处理操作，使用基于动态因子的残差高斯滤波进行去噪，有效提高了模型对晶点特征的检测能力；然后，提出了一个基于晶点特征增强的晶点检测模型，该模型通过提取晶点多尺度特征，引入了晶点特征增强模块来增强晶点特征，提高了晶点检测模型的检测性能；最后，提出了一个晶点检测功能，该功能通过不同晶点特征的综合评估值对高分子PE薄膜的质量进行评估，有效对PE薄膜的质量进行监督。