超表面近场仿真模型及其训练方法和超表面近场仿真方法

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超表面近场仿真模型及其训练方法和超表面近场仿真方法
申请号:CN202411017750
申请日期:2024-07-26
公开号:CN119047298A
公开日期:2024-11-29
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种超表面近场仿真模型及其训练方法和超表面近场仿真方法,近场仿真模型包括:至少一个预测模块,每个所述预测模块包括第一模块和第二模块,第一模块用于基于待仿真超表面的基元配置参数,确定光线经待仿真超表面处理后的第一近场预测数据;第二模块用于基于第一近场预测数据的整体特征和局部特征,确定第二近场预测数据;所述训练方法包括:利用超表面近场仿真模型确定每个预测模块输出的第二近场预测数据;基于第二近场预测数据和预设的近场仿真数据,确定损失值;基于损失值,更新第一模块和/或第二模块的参数,得到训练好的超表面近场仿真模型。该方法为后续预测近场数据提供准确支持,降低计算成本,提高计算效率。
技术关键词
仿真模型 超表面 仿真数据 仿真方法 拼接模块 基元 上采样 处理器 像素点 计算机存储介质 参数 存储器 电场 分辨率 强度 电子设备 程序
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