一种芯片测试方法、装置、电子设备及可读存储介质

本发明实施例提供了一种芯片测试方法、装置、电子设备及可读存储介质，所述方法包括：将测试集中的测试立方分别按照预设长度切分为数据块；根据每个数据块包含的数据位，对每个数据块进行标志位编码，得到每个数据块的标志位；标志位标识数据块的解码方式，解码方式包括使用预设值解码或者使用压缩种子解码；对数据块中的不相容块进行多项式压缩编码，得到所述不相容块的压缩种子；将测试集包含的标志位以及压缩种子按顺序存入待测芯片；基于所述标志位以及压缩种子解码得到对应切分后的测试向量，依次输入扫描链组成完整的测试向量对所述待测芯片的电路进行测试。本发明可以降低压缩功耗，提高压缩效率，提高编码成功的概率，节省存储空间。