一种芯片验证方法、装置、电子设备和存储介质

本申请公开了一种芯片验证方法、装置、电子设备和存储介质，该方法包括：获取目标芯片在本次运行过程所产生的若干第一运行记录；其中，第一运行记录上标记有第一运行记录对应的发生时间点；从若干第一运行记录中，选出表征目标芯片运行异常的至少一个第一运行记录，作为第二运行记录；基于各第二运行记录对应的发生时间点，确定目标芯片存在运行异常的问题时间点，其中，问题时间点用于指示在目标芯片重新运行过程中需获取的关联运行数据的产生时间，关联运行数据用于对目标芯片进行异常分析。通过上述方式，本申请能够快速且准确地确定目标芯片运行异常的问题时间点。