校准装置及校准方法

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校准装置及校准方法
申请号:CN202411025392
申请日期:2024-07-29
公开号:CN118914224B
公开日期:2025-11-18
类型:发明专利
摘要
本发明提供一种校准装置及校准方法,其中校准装置包括校准工装、设置在所述校准工装上的不同规格的校准组件和感应芯片、AOI检测单元以及PLC控制单元,其中,所述校准工装,用于装配所述校准组件,并将所述校准组件流转至所述AOI检测单元所在的工序;所述感应芯片,用于识别所述校准工装是否流转至所述AOI检测单元所在的工序;所述AOI检测单元,用于对所述校准组件进行检测;所述PLC控制单元,用于控制所述AOI检测单元对所述校准组件进行检测。利用本发明,能够解决现有的AOI检测过程中检测设备松动导致检测不准确、测试的打工方式不同以及人工点检方式效率低等问题。
技术关键词
PLC控制单元 校准工装 校准装置 校准方法 UV胶水 芯片 白色光源 亮度 UV光 检测设备 磁铁 支撑块 反光 凹槽 通孔 环形
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