Raid芯片的验证方法、装置、电子设备及可读存储介质

本发明提供了一种Raid芯片的验证方法、装置、电子设备及可读存储介质，根据Raid芯片所操作的存储空间的容量，确定执行目标读写指令的随机起始地址；随机起始地址在Raid芯片的存储空间范围内服从正态分布原则；基于历史读写指令操作频次最高的存储空间的容量，确定执行目标读写指令的随机容量；随机容量在Raid芯片的存储空间范围内服从正态分布原则；基于随机起始地址和随机容量，生成目标读写指令；通过执行目标读写指令对Raid芯片进行验证操作。本申请可以生成符合正态分布和随机起始地址和随机容量，可以基于生成的随机化的目标读写指令，实现对Raid芯片更加无序化、随机化的读写，实现对Raid芯片的偶发性问题的检测，提高芯片的检测功能覆盖率。