芯片算法模块的验证方法、装置、电子设备及存储介质

AITNT
正文
推荐专利
芯片算法模块的验证方法、装置、电子设备及存储介质
申请号:CN202411043370
申请日期:2024-07-31
公开号:CN118796707A
公开日期:2024-10-18
类型:发明专利
摘要
本发明实施例公开了一种芯片算法模块的验证方法、装置、电子设备及存储介质。该方法包括:接收待验证芯片的目标算法模块的验证请求,并确定所述目标算法模块的接口类型;所述接口类型包括FIFO接口类型和/或DMA接口类型;根据所述接口类型在预先搭建好的目标测试系统中确定与所述目标算法模块匹配的验证方案;基于所述验证方案对所述目标算法模块进行验证。本发明实施例的方案,解决了通过UVM验证平台对对芯片中算法模块进行验证,验证复杂且效率低的问题,可以在提升芯片算法模块验证效率的同时,减少芯片算法模块验证的复杂度,缩短开发周期。
技术关键词
算法模块 验证方法 接口 芯片 UVM验证平台 算法模型 电子设备 缩短开发周期 可读存储介质 计算机 验证装置 生成随机 先进先出 处理器通信 存储器 数据 复杂度 信号
系统为您推荐了相关专利信息
1
一种模拟BCI测试的装置及方法
硬件控制板 信号发生器 直流电源 待测芯片 输出电压可调
2
安装包上传方法、安装包分发方法及安装包验证方法
电子设备 验证方法 副本 私钥 拷贝
3
一种高性能的芯片冷却器
冷却器 翅片板 冷媒 高性能 基板
4
芯片中电容阵列的电容测量装置和方法
电容阵列 频域信号处理 结型场效应晶体管 双相锁相放大器 跨阻放大器
5
一种数显装置专用双输出编码器
线路板 磁钢 数显装置 采集系统 编码器技术
添加客服微信openai178,进AITNT官方交流群
驱动智慧未来:提供一站式AI转型解决方案
沪ICP备2023015588号