一种驱动芯片测试装置

本发明公开的一种驱动芯片测试装置，属于芯片测试技术领域，包括支撑板一和支撑板二，所述支撑板一和支撑板二之间设有运输板，所述支撑板一的上端安装有限位板一，支撑板二的上端安装有限位板二和限位板三，所述限位板一和限位板二之间安装有推挤组件，所述限位板一的外侧壁安装有挤压组件一，所述限位板二的外侧壁安装有挤压组件二，所述推挤组件的上端安装有检测组件一和检测组件二，所述检测组件一与限位板一侧壁活动连接，所述限位板三和限位板二上安装有驱动组件，所述检测组件二与驱动组件活动连接；能够对芯片在检测前进行清理，对检测后不合格和合格的芯片进行分类,还能够对测试针进行清洁，对弯曲的测试针进行挤压校正。