芯片测试电路板和芯片测试组件

本发明提出一种芯片测试电路板和芯片测试组件，涉及芯片检测技术领域，芯片测试电路板包括电路板，电路板上设置有用于接入待测芯片的待测芯片安装区、用于接入测试设备的第一待测点、用于接入测试设备的第二待测点和采样电阻；待测芯片安装区中包括待测引脚安装位，在待测芯片设置于待测芯片安装区时，待测芯片的待测引脚与待测引脚安装位电连接；采样电阻的第一端与待测引脚安装位连接，采样电阻的第二端接地设置；采样电阻的第一端经第一采样线与第一待测点连接，采样电阻的第二端经第二采样线与第二待测点连接。本发明将将采样电阻两端测点单独引线与两个待测点连接，提高了采样电阻的采样电流的精度及准确性。