测试结构的设计方法、存储介质及终端

一种测试结构的设计方法、存储介质及终端，其中设计方法包括：提供若干组测试结构组，每组测试结构组具有若干历史测试结构，每个历史测试结构具有相对应的量测参数值；提供机器学习模型；将历史测试结构相关联的特征数据和量测参数值输入至机器学习模型中；将历史测试结构相关联的特征数据输入机器学习模型中，基于机器学习模型输出预测参数值；将预测参数值与对应的量测参数值进行对比，直至检测准确率达到预设准确率为止；提供待设计测试结构的设计需求数据；将设计需求数据输入至机器学习模型中，基于机器学习模型生成待设计测试结构。基于机器学习模型能够快速的生成待设计测试结构，进而能够有效的减少人力，提升待设计测试结构的生成效率。