特征处理方法、装置、设备及存储介质

本申请公开一种特征处理方法、装置、设备及存储介质，方法包括：获取待进行上采样的第一特征图以及第二特征图，第二特征图中的特征数据包含图像细节信息；基于第一特征图确定像素i的多个第一邻域像素及每个第一邻域像素的特征数据，基于第二特征图确定像素i的第一特征数据；基于多个第一邻域像素的特征数据，对像素i的第一特征数据进行中心差分卷积，得到目标卷积结果；根据目标卷积结果，预测出像素i与每个第一邻域像素之间的第一相似度；采用预测出的各个第一相似度生成像素i对应的上采样核，采用该上采样核对第一特征图进行上采样，以实现在特征上采样的过程中恢复图像细节，从而提升上采样结果的清晰度。