一种缺陷检测方法和装置

本公开提供了一种缺陷检测方法和装置，方法包括：获取待检测对象对应的待处理图像；根据所述待处理图像的振幅谱，对所述待处理图像进行振幅值调整，得到待检测图像；基于所述待检测图像确定所述待检测对象的缺陷检测结果。