一种缺陷检测方法、装置、系统、电子设备及存储介质

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一种缺陷检测方法、装置、系统、电子设备及存储介质
申请号:CN202411049901
申请日期:2024-07-31
公开号:CN118941538A
公开日期:2024-11-12
类型:发明专利
摘要
本申请实施例提供了一种缺陷检测方法、装置、系统、电子设备及存储介质,所述方法应用于布设于生产线上的缺陷检测流程之外的第一检测设备,缺陷检测流程中布设有第二检测设备和控制设备,第二检测设备基于缺陷检测时使用的图像在存图磁盘进行图像存储,所述方法包括:从存图磁盘中获取待检测图像;基于待检测图像对生产线上的对象进行缺陷检测得到第一检测结果;向控制设备发送第一检测结果,以使控制设备根据第一检测结果和第二检测设备生成的、包括的对象标识与第一检测结果包括的对象标识相同的第二检测结果,控制生产线上的目标设备执行目标操作。上述第一检测设备和第二检测设备均可以根据图像对生产线上的对象进行自动化的缺陷检测。
技术关键词
检测设备 磁盘 对象 控制设备 缺陷检测算法 缺陷检测方法 标识 缺陷检测系统 缺陷检测装置 图像获取模块 数据接口 控制模块 图像获取单元 电子设备 可读存储介质 存储器 计算机 处理器
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