一种SPD读写和内存测试同步方法、系统及程序产品

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一种SPD读写和内存测试同步方法、系统及程序产品
申请号:CN202411050084
申请日期:2024-08-01
公开号:CN119108002A
公开日期:2024-12-10
类型:发明专利
摘要
本发明属于内存测试技术领域,具体公开了一种SPD读写和内存测试同步方法、系统及程序产品,通过基板管理控制器将总线上同步挂载的各内存条所对应的通道切换开关依次单独打开,并对总线上同步挂载的各内存条逐条进行SPD读写测试,得到各内存条的SPD读写测试结果,通过中央处理器对各内存条进行内存专项测试,得到各内存条的内存专项测试结果,最后将各内存条的SPD读写测试结果和内存专项测试结果汇总后上传至测试控制端。本发明可以实现中央处理器内存专项测试与基板管理控制器SPD读写测试的并行处理,且基板管理控制器可以通过单独切换的方式,自动逐条完成批量内存条的SPD读写测试,大大降低了内存总体测试时间,提升了内存条测试效率。
技术关键词
内存条 基板管理控制器 同步方法 中央处理器 切换开关 测试机台 内存测试技术 计算机程序产品 芯片 通道 离线 指令 执行器 存储器 模式 批量 数据
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