摘要
本申请涉及工业设备控制技术领域,尤其涉及一种AD芯片上电数据采集方法及系统。本申请通过AD芯片上电数据采集方法及系统,根据第一预设时间周期从AD芯片的ID状态寄存器中读取AD芯片所对应的初始ID值,如果初始ID值与标准ID值不匹配时,对AD芯片执行AD初始化的操作,并AD初始化执行完成后,控制所AD芯片从ID状态寄存器中重新读取ID值,如果初始ID值与标准ID值匹配时,直接控制AD芯片从ID状态寄存器中读取ID值,提高了AD芯片上电数据采集的准确性。
技术关键词
数据采集方法
主控制器
芯片
上电自检
下位机
工业设备控制技术
数据采集系统
电源
标志位
处理器
异常状态
主控器
周期
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电压
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