一种半导体结构的制备方法

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一种半导体结构的制备方法
申请号:CN202411056485
申请日期:2024-08-02
公开号:CN118969639A
公开日期:2024-11-15
类型:发明专利
摘要
本发明提供了一种半导体结构的制备方法,应用于半导体技术领域。在本发明中,通过先在基底上形成多层介质层(如第一介质层),然后在不同的介质层中依次形成深度、宽度不同的凹槽和通孔,并沿着所述通孔去除部分所述介质层,从而形成由剩余的多层介质层及通孔组成的空气隙结构,并将所述空气隙结构设置在上下相邻的芯片、元件、器件之间,从而达到增强器件制程工艺过程中所产生热量的热扩散,降低制程工艺过程中的高温对芯片、元件、器件的影响,解决器件制程工艺过程中散热性能不佳的问题,提高器件的可靠性。
技术关键词
空气隙结构 半导体结构 介质 通孔底部露出 插塞结构 凹槽 基底 半导体存储器 制程 芯片 密度 元件 层叠 顶端
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