批量数据校验方法、装置、电子设备及存储介质

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批量数据校验方法、装置、电子设备及存储介质
申请号:CN202411065381
申请日期:2024-08-05
公开号:CN119025532A
公开日期:2024-11-26
类型:发明专利
摘要
本申请涉及数据处理技术领域,提供了一种批量数据校验方法、装置、电子设备及存储介质。该方法通过获取目标批量数据,在目标批量数据为本次校验的首批数据时,获取预设K值并使用K均值聚类算法将目标批量数据划分为K个子数据集,然后将该K个子数据集分配至N个平行任务队列,由该N个平行任务队列并行执行各子数据集的校验任务,利用对批量数据进行智能批次优化和并行校验提升了数据校验的效率和可靠性,能够适应大规模数据处理需求。
技术关键词
批量数据 系统资源使用率 终端设备 K均值聚类算法 队列 校验方法 电子设备 可读存储介质 数据处理技术 校验装置 处理器 校验模块 报告 存储器 计算机
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