图像传感器测试结构及图像传感器结构

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图像传感器测试结构及图像传感器结构
申请号:CN202411065837
申请日期:2024-08-05
公开号:CN118588690B
公开日期:2024-11-29
类型:发明专利
摘要
本申请提供了一种图像传感器测试结构及图像传感器结构,其中,图像传感器测试结构包括基板和遮挡层,基板,包括彼此相背的第一表面和第二表面、以及位于所述第一表面和所述第二表面之间的至少一个感光测试像素,所述第一表面作为入光面;遮挡层,覆盖在所述第一表面上,以避免外界的光信号进入所述感光测试像素,从而利用所述感光测试像素执行暗场测试。实现了在制成阶段测试图像传感器中白像素数量,以便提前对图像传感器的制成做出调整,缩短测试循环周期,提升效率,减低异常损失,提高图像传感器的性能和品质。
技术关键词
图像传感器结构 测试结构 芯片结构 像素 金属格栅 感光器件 图像传感器芯片 测试图像传感器 基板 复位晶体管 介质 电信号 暗电流 电路 电子 包裹 阶段
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