抗雪崩平面超结MOSFET及其制备方法、芯片

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抗雪崩平面超结MOSFET及其制备方法、芯片
申请号:CN202411067301
申请日期:2024-08-06
公开号:CN118588763B
公开日期:2024-12-06
类型:发明专利
摘要
本申请属于功率器件技术领域,提供了一种抗雪崩平面超结MOSFET及其制备方法、芯片,通过在第一P型基区与第一N型源区之间设置凹形的第一介质层,在第二P型基区与第二N型源区之间设置凹形的第二介质层,并且第一N型源区和第二N型源区为T型结构,第一N型源区的垂直部位于第一介质层的凹槽内,且第一N型源区的水平部与第一P型基区接触,第二N型源区的垂直部位于第二介质层的凹槽内,且第二N型源区的水平部与第二P型基区接触,从而抑制器件内寄生的BJT导通,抑制了N型源区和P型基区之间的导通,提升了平面SJ MOS的抗雪崩能力和可靠性。
技术关键词
栅极介质层 栅极多晶硅层 N型衬底 功率器件技术 凹槽 离子掺杂 氧化铪材料 缓冲材料 多晶硅材料 外延 芯片 凹形 氧化硅 包裹 正面
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