基于深度学习图像分类模型的屏幕瑕疵分类方法、装置及存储介质

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基于深度学习图像分类模型的屏幕瑕疵分类方法、装置及存储介质
申请号:CN202411067429
申请日期:2024-08-06
公开号:CN119091188A
公开日期:2024-12-06
类型:发明专利
摘要
本发明涉及一种基于深度学习图像分类模型的屏幕瑕疵分类方法,包括:获取屏幕瑕疵样本数据,根据瑕疵类别,划分为多个样本数据集;利用每个样本数据集训练该瑕疵类别所对应的二分类模型;将当前批次的所有待检测屏幕图像,分别输入到每个完成训练的二分类模型中,获取每个待检测屏幕图像的多个分类结果;对于每个待检测屏幕图像,若所有分类结果中,有且只有一个分类结果为阳性,则以该分类结果所表示的瑕疵类别,作为该待检测屏幕图像的屏幕瑕疵类别;否则,判断该待检测屏幕图像为冲突图像,并将冲突图像送至人工目检,获取该待检测屏幕图像的屏幕瑕疵类别。
技术关键词
深度学习图像分类 瑕疵分类方法 屏幕 样本 二分类模型 分类装置 梯度下降法 数据 训练集 可读存储介质 模块 裂纹 计算机 处理器 玻璃
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