一种芯片检测装置及其控制系统

本发明公开了一种芯片检测装置，属于检测装置技术领域，包括箱体，箱体内设有中央处理器、储存模块、控制器，箱体上设有上料工位、下料工位，箱体内设有驱动电机，驱动电机上设有工作台，箱体内设有安装滑轨，安装滑轨上滑动连接有吸附上、下料机构，箱体内顶部设有视觉模块，视觉模块输出端位于工作台顶部，控制器分别与吸附上、下料机构电性连接，视觉模块与中央处理器电性连接；通过设置的吸附上料机构，对芯片进行上料，视觉模块与中央处理器配合，进行外观检测，再对芯片进行下料，便于保护芯片表面，吸附上、下料机构在安装滑轨上滑移，未发生角度位移，使检测结果更加精准。