一种DDR时序参数测量方法、装置、系统、介质及产品

本发明公开了一种DDR时序参数测量方法、装置、系统、介质及产品，涉及DDR芯片测试技术领域。所述方法是在处理器依次通过DDR控制器、DFI接口和端口物理层向被测DDR芯片发送时序参数测量用命令的过程中，先解析经过DFI接口的命令以得到针对所有类型DDR芯片进行全局统一设计的命令格式，然后将命令解析结果转换为用于进行DDR时序参数测量的统一型测量所需信息，最后应用该信息测量得到两命令之间的时差或命令与DFI接口信号之间的时差，并将该时差作为DDR时序参数予以输出，如此可面对不同DDR类型的芯片，采用完全相同的测量模块实现统一的DDR时序参数测量，进而可使整个测量方案简单通用，具有良好的扩展性和通用性。