一种电子元器件缺陷识别方法

本发明提供了一种电子元器件缺陷识别方法，涉及图像识别技术领域，该方法包括：采集电子元器件的结构图像，并对结构图像进行降噪处理，得到降噪图像；通过图像分割技术将降噪图像划分为若干个分割图像；提取全部分割图像的显著点；分别计算分割图像中全部像素点的特征矩阵；通过神经网络模型得到全部特征矩阵的特征向量；计算特征向量的相似度，若计算结果未超过相似度阈值，则认为特征向量对应的结构图像内存在缺陷。该方法通过边缘检测技术提高了图像识别的精确度，并通过人工智能实现了自动化检测。