基于ATE测试机的低压差线性稳压器芯片批量测试方法

本发明涉及一种基于ATE测试机的低压差线性稳压器芯片批量测试方法，属于芯片测试技术领域。采用了本发明的LDO芯片批量测试方法，芯片测试单元实现芯片自动测试分选机和ATE自动测试机与待测芯片的连接，调用ATE自动测试机的测试资源，实现待测芯片的外观极性测试、电性能测试和外观缺陷测试，进一步的电性能测试包括：接触性测试；开短路测试；电流耐压功耗测试；输出电压功能及压差测试；电源抑制比和噪声测试；保护功能测试以及修调测试。从而实现了一种涵盖LDO类芯片的全部功能的，可应用于CP测试，FT测试，三温测试等芯片测试环节中的低压差线性稳压器(LDO)芯片批量测试方法。