基于S905X4平台的芯片测试方法、电子设备、介质

本发明公开了一种基于S905X4平台的芯片测试方法、电子设备、介质，涉及芯片测试技术领域。该方法包括：获取S905X4平台；在每个安装区域的表面放置限位装置；将两个DDR4芯片分别放置在对应的限位孔内，使DDR4芯片与对应的导电胶接触；在每个限位装置上放置压紧装置，通过压紧装置压住DDR4芯片；将S905X4平台与上位机连接；S905X4平台对DDR4芯片进行测试，并将测试结果发送至上位机。根据本发明实施例的方法，使得对DDR4芯片测试时，DDR4芯片的安装与拆卸更加便捷，并能够提升测试效率。