一种硅光芯片及芯片级测试用光纤阵列、测试方法

本发明涉及一种硅光芯片，其在同一侧具有一个第一输入波导、多个第一输出波导以及Loop环路；Loop环路具有一个第二输入波导以及一个第二输出波导，第二输入波导分90%的光向MPD以及分10%的光向第二输出波导。一种芯片级测试用光纤阵列，其具备第一保偏光纤、第三保偏光纤、多模光纤以及四根第二保偏光纤，第一保偏光纤对应硅光芯片中的第一输入波导，第三保偏光纤对应硅光芯片中的第二输入波导，多模光纤对应硅光芯片中的第二输出波导，四根第二保偏光纤分别对应硅光芯片中的四个第一输出波导。有益效果为：可以大幅度加快芯片测试速度，由于芯片面积和MPD数量未增加，不会额外增加芯片成本。